Medición de la función de trabajo en materiales conductores y semiconductores por el método KELVIN / Tenoch Gonz lez S nchez

Por: Gonz lez S nchez, TenochTipo de material: Texto

TextoDescripción: 70 p. / 29 cmTema(s): 1. DISPOSITIVO DE MEDICIÓN EN MATERIALES CONDUCTORES Y SEMICONDUCTORES \ 2. SONDA KELVINClasificación CDD: 621.381.548 G6m Clasificación LoC:TK153 T4 G6 2010Nota de disertación: Tesis. Opción I. I.T.Z. (Electromec nica) Fis. José Campos Álvarez

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Tesis	TESIS ELECTROMECÁNICA	621.381.548 G6m (Navegar estantería(Abre debajo))	1	Disponible		E257-2010

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Previo	621.381.52 V4i Instalación de un dispositivo piezoel‚ctrico en una sonda kelvin para la medición de la función de trabajo de materiales semiconductores / Omar Javier Velzquez Mazón	621.381.53 A3c Coordinación de protecciones de los circuitos de distribución del rea Atoyac de Álvarez zona Zihuatanejo Guerrero / Everardo Adame Valladarez	621.381.534 C342a Automatizacion de un generador de impulsos de tension de 500 kv a 8.2 kj / Manuel de Jesus Chavez Gutierrez	621.381.548 G6m Medición de la función de trabajo en materiales conductores y semiconductores por el método KELVIN / Tenoch Gonz lez S nchez	621.381.73 J8d Desarrollo de materiales fotosensitivos de TIO2 para uso en fotocatalizadores y celdas solares / Emmanuel Ju rez Vel zquez	621.381.73 T6d Digitalización de ctos de MT y coordinación de protecciones, rea TLP de la zona Altamirano división centro sur / Rogelio Torres Toledo	621.381.9 Z3m Mejoramiento del control de equipos criticos que afectan la calidad de los productos nissan / Sandro Zavaleta Salgado	Siguiente

Tesis. Opción I. I.T.Z. (Electromec nica) Fis. José Campos Álvarez

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