Medición de la función de trabajo en materiales conductores y semiconductores por el método KELVIN / Tenoch Gonz lez S nchez (Registro nro. 26778)
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000 -LÍDER | |
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fixed length control field | 00535nam a2200121 4500 |
050 ## - SIGNATURA TOPOGRAFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO (LC) | |
Número de Clasificación | TK153 T4 G6 2010 |
082 ## - NUMERO DE CLASIFICACION DECIMAL DEWEY | |
Número de Clasificación | 621.381.548 G6m |
100 ## - ASIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre personal | Gonz lez S nchez, Tenoch |
245 ## - TÍTULO | |
Título | Medición de la función de trabajo en materiales conductores y semiconductores por el método KELVIN / Tenoch Gonz lez S nchez |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | 70 p. / 29 cm |
502 ## - NOTA DE TESIS | |
Nota de tesis | Tesis. Opción I. I.T.Z. (Electromec nica) Fis. José Campos Álvarez |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA - TERMINO TEMÁTICO | |
Término temático o nombre geográfico como elemento de entrada | 1. DISPOSITIVO DE MEDICIÓN EN MATERIALES CONDUCTORES Y SEMICONDUCTORES \ 2. SONDA KELVIN |
No. biblioteca | No. biblioteca | Número de clasificación | Código de barras/Número de adquisición | Número de copia | Tipo de material |
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TESIS ELECTROMECÁNICA | TESIS ELECTROMECÁNICA | 621.381.548 G6m | E257-2010 | 1 | Tesis |