000 00535nam a2200121 4500
050 _aTK153 T4 G6 2010
082 _a621.381.548 G6m
100 _aGonz lez S nchez, Tenoch
245 _aMedición de la función de trabajo en materiales conductores y semiconductores por el método KELVIN / Tenoch Gonz lez S nchez
300 _a70 p. / 29 cm
502 _aTesis. Opción I. I.T.Z. (Electromec nica) Fis. José Campos Álvarez
650 _a1. DISPOSITIVO DE MEDICIÓN EN MATERIALES CONDUCTORES Y SEMICONDUCTORES \ 2. SONDA KELVIN
999 _c26778
_d26778