Estudios de dispositivos semiconductores de potencia en operacion nominal y con la influencia de fallas en una plataforma de pruebas / Hugo Alberto Benitez Franco
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TextoDescripción: 65 p. / 27 cmTema(s): 1.CIRCUITO DE CONTROL \ 2.TRANSISTOR MOSFETClasificación CDD: 620.112.972 B4e Clasificación LoC:TK153 MR5 B4 2003Nota de disertación: Memoria de residencia profesional. Opción X. I.T. Z. (ElectroMecánica) Ing. Jose Altamirano Zuñiga
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Tesis
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TESIS ELECTROMECÁNICA | 620.112.972 B4e (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | E121-2003 |
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Memoria de residencia profesional. Opción X. I.T. Z. (ElectroMecánica) Ing. Jose Altamirano Zuñiga
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